طیف نگاری الکترونی برای آنالیز شیمیایی(ESCA) و انواع آن (XPS ,UPS)
تحقیق آماده شیمی با موضوع طیف نگاری الکترونی برای آنالیز شیمیایی(ESCA) و انواع آن (XPS ,UPS) برای دانلود از سایت گروه ترجمه تخصصی البرز ارائه شده است. این تحقیق آماده شیمی برای مهندسی شیمی، مهندسی مواد و فیزیک نیز قابل کاربرد است. این تحقیق با عنوان طیف نگاری الکترونی برای آنالیز شیمیایی به صورت فایل Word است.
در علوم مختلف مهندسی و پزشكی ، موضوع اندازه گیری و تعیین مشخصات از اهمیت كلیدی برخوردار است به طوری كه ویژگی های فیزیكی و شیمیایی مواد، به مواد اولیه مورد استفاده و همچنین ریزساختار یا ساختار میكروسكوپی به دست آمده از فرایند ساخت بستگی دارد. به عنوان مثال برای شناسایی مواد اولیه، بدیهی است كه نوع و مقدار ناخالصیها، شكل و توزیع اندازه ذرات، ساختار بلورین و مانند آن در ماهیت و مرغوبیت محصول اثر دارند. بنابراین هر چه دستگاه های اندازه گیری و تعیین مشخصات قوی تری در اختیار باشد، كنترل مواد اولیه با دقت بیشتری صورت میگیرد. عناصر پایه دارای مشخصات متنوعی هستند كه برای تعیین هركدام از آن ها به ابزار و وسایل دقیقی نیاز است. آنالیزهایی كه بدین منظور بكار می روند عبارتند از: آنالیز میكروسكوپی، آنالیز ساختاری، آنالیز عنصری، آنالیز پیوندی، رو شهای تعیین مشخصات و سطوح ویژه و همچنین آنالیزهای كلاسیك و رو شهای جداسازی. مبنای تقسیم بندی هركدام از آنالیزهای مذكور براساس عامل تحریك (ذره ورودی) و یا ویژگی است خاصیت عنصر پایه بر اساس آن تعیین می گردد. نتیجه آنالیزهای مذكور به صورت تصویر، طیف و یا گراف است كه اطلاعاتی در مورد ابعاد، شكل، انواع پیوندها و عناصر و مقدار تخلخل نشان می دهد.در ضمن برای مطالعه ریزساختارها، نیاز بیشتری به ابزارهای شناسایی و آنالیز وجود دارد. در ریزساختار یا ساختار میكروسكوپی مواد، باید نوع فازها، شكل، اندازه، مقدار و توزیع آنها را بررسی كرد. با توجه به هدف مورد نظر در آنالیز و تجهیزات در دسترس امکان استفاده از روش های مختلف آنالیز مواد وجود دارد:
روش های تعیین مشخصات مواد
اساس کار آنالیز طیف سنجی الكترونی برای آنالیز شیمیایی (ESCA)
طیف سنجی فوتوالكترونی پرتو ایکس (XPS)
اثر جابجایی شیمیایی(chemical shift)
طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ماوراء بنفش(UPS)
كاربردها
محدودیتهای ESCA
نمونه سازی
مدت زمان آنالیز
فهرست مدل های جدید دستگاههای آنالیزESCA
نتیجه گیری
از بحث فوق نتیجه می گیریم که یکی از روشهای مهم آنالیز سطوح طیف سنجی فتو الکترون پرتو x است .در این روش حالت شیمیایی گونه های سطحی شناسایی می شود. هنگامی که اجتناب از اثرات مخرب ناشی از تکنیک های پرتو الکترونی ضروری است، می توان با این روش ترکیب شیمیایی سطح نمونه را آنالیز نمود.پس به طور کلی این روش برای تعیین ترکیب شیمیایی و حالت پیوند در لایه های نزدیک سطح یک نمونه ، کاملا مناسب است ولی قدرت تفکیک جانبی خوبی ندارد.