چکیده

تحلیل ­های پیشرفته در مقیاس نانو مثل «طیف نمایی ریزساختاری جذب اشعه X (XAFS)»، «طیف نمایی رنگ ­تابی دورانی مغناطیسی اشعه ایکس (XMCD)» و «دستگاه طیف نمایی فلوئورسنس اشعه ایکس (XRF)» با رزولوشن فضایی 100 نانومتر و با ارتقاء دادن  دو پرتو اشعه ایکس BL37XU و BL39XU در SPring-8 به طور معمول انجام شده ­اند. اندازه پرتو تمرکزی می­ تواند از 50 نانومتر تا 2 میکرومتر متغیر باشد و بالاترین میزان شار با مقدار 1012 photons/s/0.01% b.w  در شرایط اندازه پرتو 2300 ×300nm (پهنای کامل در نصف بیشینه) و همچنین در 12 کیلو الکترون ولت حاصل می ­شود.

1-مقدمه

پرتو متمرکز اشعه ایکس یک ابزار قدرتمند برای آشکار کردن ویژگی­ های الکترونیکی، شیمیایی، ساختاری و مغناطیسی مواد پیشرفته با رزولوشن فضایی بالاست. پیشرفت­ های اخیر اپتیک در تولید پرتوهای غیر متمرکز اشعه ایکس، رویایی بوده است [1-3] و ما را قادر به تحلیل نانو­پروب اشعه ایکس می­ سازد. برای کاربردهای گسترده نانوپرتو می­ توان با استفاده عملی از یک پرتو 100 نانومتری برای برطرف کردن نیازهای مشکلات رایج صنعتی و تحقیقات علمی استفاده کرد....

 میتوانید از لینک ابتدای صفحه، مقاله انگلیسی را رایگان دانلود فرموده و چکیده انگلیسی و سایر بخش های مقاله را مشاهده فرمایید