Abstract
A model system using squalene has been reacted with sulphur, accelerators etc. against a cleaned brass surface without and in the presence of adhesion promoters based on cobalt. The interfacial layer found to exist between the purely organic material and the metal substrate has been examined by XPS/ESCA and SIMS after successive periods of ion etching. The interfacial interlayer proceeds from being almost entirely organic through a mixed organic/metal sulphide layer to copper sulphide with some zinc sulphide, then zinc oxide and finally to the bulk metal of the substrate. Cobalt compounds are carried into the copper sulphide there forming cobalt sulphide. There are subtle differences of behaviour between cobalt-MBT, cobalt neodecanoate and cobalt boroacylate. The latter seems to be more closely associated with the copper sulphide than other materials investigated. The effect of steam ageing is briefly considered
چکیده
یک سیستم مدل که با استفاده از اسکوالن ایجاد شده، در حضور یا غیاب پروموتورهای کبالتی و یک سطح برنزی تمیز، با سولفور، عوامل شتاب دهنده و غیره واکنش داده است. لایه سطحی مشترک به وجود آمده بین ماده آلی خالص و سوبسترای فلزی، از طریق آنالیز هایی مانند XPS/ESCA و SIMS و پس از انجام سونش های یونی متوالی مورد مطالعه قرار گرفته است. لایه بینابینی سطحی مشترک با کمک سولفید روی و از طریق قسمت آلی لایه متشکل از ترکیب ماده آلی/سولفید فلزی به سمت سولفید مس و اکسید روی حرکت می کند و در نهایت به بخش فلزی سوبسترا می رسد. ترکیبات حاوی کبالت به سمت قسمت های حاوی سولفید مس انتقال می یابند و در آن جا باعث شکل گیری سولفید کبالت می شوند. تفاوت های بسیار جزئی در رفتار کبالت-MBT، نئودکانوات کبالت و بورواسیلات کبالت وجود دارند. به نظر می رسد بورواسیلات کبالت نسبت به سایر مواد مورد بررسی ارتباط نزدیک تری با سولفید مس داشته باشد. تاثیر پیری ناشی از بخار فلزات به طور محدود مورد بررسی قرا گرفت.
1-مقدمه
ماهیت شیمیایی سطوح مشترک لاستیک-آلیاژ برنج و مکانیسم شکل گیری آن ها توسط Van Ooij1,2 مورد بررسی قرار گرفته است، و تکنیک های آنالیز سطحی مختلفی مانند طیف سنجی فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS/ESCA)، طیف سنجی الکترونی اوژه (AES)، طیف سنجی پراش پرتو ایکس (EDX) و طیف سنجی جرمی یون های ثانویه (SIMS) بررسی تغییرات ایجاد شده در ترکیب شیمیایی سطوح مشترک را امکان پذیر ساخته اند...